设备型号:

SmartLab

基本参数:

(1)X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶

(2)测角仪为水平测角仪

(3)测角仪最小步进为1/10000度，高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)

(4)测角仪配程序式可变狭缝

(5)自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）

(6)CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）

功能介绍:

粉末样品的物相定性与定量分析。

计算结晶化度、晶粒大小。

确定晶系、晶粒大小与畸变。

Rietveld定量分析。

薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度。

In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构。

小角散射与纳米材料粒径分布。

微区样品的分析。